金属平均晶粒度测定方法

金属平均晶粒度测定方法步骤是？
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没有观测误差存在，由面积法或截线法测出的晶粒度结果应一致。
随着晶粒或截线段数目增加, 测量的晶粒度相对准确度也提高。在相同的数目下，截线测量的相对准确度要优于平面晶粒度测量。对于截线法,大约400个截线或截点数能获得10％（或少于）的RA，而对于平面法,需要大约700个截线或截点数能达到10％的RA。测量的重复性和再现性随着晶粒或截线段数目增加而提高，相同数目下，截线法的效果要优于平面法。

为了获得准确的计数，面积法需要在计算时在晶粒上做记号（划线），而截线法则不需要。截线法使用简单快捷。而且一系列测试表明在相同数目下，截线法有着更好的统计精度，因此推荐用截线法。

单个金相工作者重复进行面积测量和截线晶粒度测量其公差可达±0.1G，很多金相工作者测量同一试样，晶粒度公差通常在±0.5G范围内。