2017年3月6日，赛默飞在Pittcon现场展出拉曼光谱仪新品iXR，这是一款设计紧凑的多模式的拉曼光谱仪，可以使用多种技术对单一测量点进行同时分析。分析结果通过展示分子成分、表面和结构性能之间的关系，加深对材料的认识。
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据悉，该产品使用光学接口同时提供化学指纹和材料结构数据,同时利用补充仪器收集元素或物理信息，并立即进行数据关联。这些信息的目的在于提高对材料整体性能的理解,提升研究成果的质量。
此外,采用赛默飞的OMNIC系列软件，iXR拉曼光谱仪可以捕获随着时间推移而产生的光谱变化，可以实现变化环境中的动态进程测量,比如聚合物的流变结晶。
“从事材料研究和表征的科研工作者需要深入、快速了解新材料的性能,” 赛默飞分子光谱副总裁和总经理Phillip van de Werken说。“iXR拉曼光谱仪以及我们在连用技术方面的实力，可以加深客户对材料物理化学性质的了解。”
现在科学家可以结合紧凑型拉曼和实验室的X射线电子能谱(XPS)、x射线衍射和流变仪等其他分析技术来进行材料研究和分析。结合化学和形态信息，以及元素和物理性质，可以更深入洞察化学和性能之间的关系。
展会现场
