9月29日，全国技术委员会发布了《半导体管特性图示仪校准仪校准规范》征求意见稿，并向全国的计量机构、科研院所等单位征求意见。
本规范的起草单位有中国电子技术标准化研究院、北京市科通电子总厂有限公司、中国计量科学研究院、西安微电子技术研究所。
半导体管特性图示仪校准仪是校准半导体管特性图示仪的专用校准仪器。目前主要有两种类型：阶梯归一化图示仪校准仪和阶梯采样测量图示仪校准仪。
本规范按照JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》编制，JJF1001《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》 共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。
与JJG 838-1993《晶体管特性图示仪校准仪检定规程》相比，除编辑性修改外，本规范主要修订内容有：涵盖了目前在用的所有半导体管特性图示仪校准仪的型号；修改规范名称为半导体管特性图示仪校准仪校准规范；重新编制了校准项目和校准方法，补充了阶梯、阶梯电流表和脉冲电流表的校准方法；补充了不确定度评定实例(详情见附件)。
本规范适用于半导体管特性图示仪校准仪的校准。
